產品簡介

中圖儀器SuperViewW白光粗糙度輪廓儀基于白光干涉核心技術，實現粗糙度與輪廓度一體化高精度測量，以全場景適配、高效自動化優勢，成為B端企業降本增效的核心檢測裝備。

針對傳統測量設備常面臨的“材質適配窄、精度不穩定、粗糙度與輪廓度需分機測量、批量檢測效率低"等問題，中圖儀器SuperViewW白光粗糙度輪廓儀基于白光干涉核心技術，實現粗糙度與輪廓度一體化高精度測量，以全場景適配、高效自動化優勢，成為B端企業降本增效的核心檢測裝備。

一、產品優勢

1.一體化測量，告別重復操作

無需更換設備或模塊，同步完成粗糙度（Ra/RMS/Sa等）與輪廓度（臺階高度、曲率、微觀幾何形狀等）參數檢測，覆蓋ISO/ASME/EUR/GBT四大標準300余種參數，滿足從研發到量產的全流程質檢需求，某光學企業應用后，檢測流程簡化60%。

2.全材質適配

突破傳統設備對材質的局限，單一掃描模式輕松應對超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質，無論是半導體硅晶片、3C玻璃屏，還是汽車精密零部件、光學元件，均能精準捕捉表面形貌，無需額外適配耗材。

3.納米級精度，數據可靠可追溯

依托白光干涉技術與復合型EPSI重建算法，粗糙度RMS重復性低至0.005nm，形貌重復性達0.1nm，輪廓度（臺階測量）準確度僅0.3%。搭配氣浮隔振底座與0.1nm分辨率環境噪聲評價功能，即便在車間振動環境中，連續10次測量數據偏差仍＜0.001nm，為工藝優化提供可信的量化依據。

4.自動化高效，降本增效顯著

SuperViewW白光粗糙度輪廓儀支持單/多區域一鍵測量、陣列式批量檢測，編程預設流程實現自動化操作；W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下掃描速度達8μm/s，搭配數千張圖像無縫拼接功能。

二、應用場景

1.半導體制造：適配硅晶片研磨減薄后的粗糙度檢測、光刻槽道輪廓測量，助力頭部企業工藝良率提升8%，檢測數據通過國際標準認證，滿足供應鏈合規要求。

2.3C電子：精準測量手機玻璃屏粗糙度、金屬殼模具瑕疵、油墨屏高度差，批量檢測報表支持Word/Excel/PDF格式自動導出，適配供應鏈質檢存檔需求。

3.光學加工：量化納米臺階高度、光學元件表面輪廓，916.5nm臺階測量重復性達0.08%，幫助企業產品合格率從92%提升至99.2%。

4.汽車零部件：檢測精密軸承孔隙間隙、齒輪表面磨損輪廓，在復雜車間環境中保持數據穩定，某車企質檢周期縮短50%。

三、產品服務

1.交付支持：合同生效后30天內免費送貨上門，專業團隊現場安裝調試，確保設備快速投產；

2.質保售后：驗收合格后享1年質保，故障2小時內響應，72小時上門維修，質保期后提供成本價備件與終身技術支持；

3.定制化服務：可根據行業需求定制測量模板、分析參數，提供免費樣品測試與行業專屬解決方案設計。

如需獲取產品演示視頻、行業案例手冊或免費樣品測試，歡迎隨時咨詢中圖儀器。

注：產品參數與配置以實際交付為準，中圖儀器保留根據技術升級調整相關內容的權利，恕不另行通知。