產(chǎn)品簡介

CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率成像，清晰呈現(xiàn)樣品表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。采用特殊設(shè)計的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

中圖儀器CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率成像，清晰呈現(xiàn)樣品表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。在材料科學(xué)中解析材料表面形貌與內(nèi)部結(jié)構(gòu)；在工業(yè)制造領(lǐng)域中為精密加工質(zhì)量控制提供支撐；在生命科學(xué)、納米技術(shù)、地球科學(xué)等多個領(lǐng)域，均成為科學(xué)研究與技術(shù)創(chuàng)新的核心工具。

一、產(chǎn)品性能

1.高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設(shè)計的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計的高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶也不用擔(dān)心環(huán)境振動對電鏡產(chǎn)生的干擾。

2.選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時的倉內(nèi)真空度(倉內(nèi)真空度低可達(dá)100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

3.高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進(jìn)行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

4.豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能。可根據(jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務(wù)。

二、應(yīng)用領(lǐng)域

1.工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量控制：

（1）PCB/PCBA缺陷分析： 快速定位焊點(diǎn)虛焊、橋連、裂紋，分析線路缺陷。

（2）金屬材料斷口分析： 清晰判斷斷裂性質(zhì)，為產(chǎn)品改進(jìn)提供關(guān)鍵依據(jù)。

（3）涂層/鍍層檢測： 直觀評估涂層均勻性、厚度及結(jié)合力。

2.科學(xué)研究與高校教育：

（1）材料研發(fā)： 觀察納米材料、復(fù)合材料、多孔材料的微觀形貌。

（2）生命科學(xué)： 直接觀察昆蟲、植物、細(xì)胞等非導(dǎo)電生物樣品。

（3）教學(xué)演示： 替代光學(xué)顯微鏡，讓學(xué)生接觸科研設(shè)備，激發(fā)科研興趣。

3.地質(zhì)考古與法醫(yī)鑒定：

（1）礦物鑒定：觀察礦物的微觀形貌、解理、共生關(guān)系，輔助確定礦物類型。

（2）巖心分析：分析巖石的孔隙結(jié)構(gòu)、裂隙發(fā)育情況，對石油、天然氣勘探非常重要。

（3）微體古生物學(xué)：觀察有孔蟲、花粉、孢子等微體化石，用于地質(zhì)定年和古環(huán)境重建。

（4）考古文物分析：分析陶器、玉器、金屬文物的制作工藝、腐蝕產(chǎn)物和殘留物。

三、應(yīng)用案例

注：產(chǎn)品參數(shù)與配置可能因技術(shù)升級調(diào)整，具體以實際溝通為準(zhǔn)。

CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡一鍵式智能操作， 抽真空、圖像優(yōu)化全自動完成，無需專業(yè)背景，普通技術(shù)員經(jīng)短暫培訓(xùn)即可獨(dú)立操作。點(diǎn)擊咨詢，免費(fèi)獲取高倍檢測技術(shù)方案+現(xiàn)場樣品測試資格+機(jī)型定制建議，解鎖復(fù)雜環(huán)境下高倍檢測的高效新方式！