產(chǎn)品簡(jiǎn)介

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施，而中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。

掃描電鏡是眾多不同研究領(lǐng)域中的一個(gè)關(guān)鍵工具，范圍覆蓋從材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)甚至生命科學(xué)領(lǐng)域所涉及的一切內(nèi)容。只要需要關(guān)于樣品表面或近表面區(qū)域的形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息，掃描電鏡分析都是必要的步驟，SEM掃描電鏡也就成為必要的工具。

傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施，而中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。

CEM3000系列掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便，使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測(cè)器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求，包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。

產(chǎn)品功能

1）臺(tái)式電鏡緊湊的外型，能夠不受場(chǎng)地尺寸制約，真正做到了空間適用性，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時(shí)CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機(jī)，一臺(tái)機(jī)器多處開花；

2）高分辨率，能夠?qū)ξ⒊叽缣卣鬟M(jìn)行觀測(cè)分析，滿足用戶的觀測(cè)需求；

3）快速抽放氣，憑借真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)，該系列臺(tái)式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時(shí)間；

4）高易用性，能夠快速成像、一鍵出片，用戶使用自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無(wú)需過(guò)多人工操作，就可得到高質(zhì)量拍攝圖片；

5）大樣品倉(cāng)，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度；

7）可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行觀測(cè)；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇，滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

9）搭配有多種探頭，能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。

機(jī)型選擇

CEM3000全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡，不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠，在現(xiàn)代制造業(yè)中為用戶帶來(lái)突破性的檢測(cè)解決方案：

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng)，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

中圖國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司CEM3000產(chǎn)品外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測(cè)，具有高空間分辨率。搭配不同的探頭，同時(shí)接收多種信號(hào)，對(duì)樣品進(jìn)行分析。

應(yīng)用案例

金屬材料分析

花粉微觀形態(tài)

部分技術(shù)指標(biāo)

如有疑問(wèn)或需要更多詳細(xì)信息，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。