掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。

CEM3000國產SEM掃描電子顯微電鏡該系列臺式電鏡也可以進入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手。即便在一些常規電鏡難以耐受的工作環境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現出色的性能。

SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

中圖儀器臺階儀器臺階高度重復性能低于5A，Z0向測量量程可到1050um。最高垂直分辨率可達亞埃米級，且垂直方向動態比率高，可以獲取表面輪廓形貌、粗糙度、波紋度、形狀誤差及其它一些形貌特征等綜合信息。

?CEM3000中圖儀器國產電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。憑借空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

SuperViewW1白光干涉光學輪廓儀系統可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點。